三坐标测量机扫描物体的几种方法

2019-12-03
    三坐标测量机简称CMM,自六十年代中期第一台三坐标测量机问世以来,随着计算机技术的进步以及电子控制系统、检测技术的发展,为测量机向高精度、高速度方向发展提供了强有力的技术支持。

  CMM按测量方式可分为接触测量和非接触测量以及接触和非接触并用式测量,接触测量常于测量机械加工产品以及压制成型品、金属膜等。本文以接触式测量机为例来说明几种扫描物体表面,以获取数据点的几种方法,数据点结果可用于加工数据分析,也可为逆向工程技术提供原始信息。扫描指借助测量机应用PC-DMIS软件在被测物体表面特定区域内进行数据点采集。此区域可以是一条线、一个面片、零件的一个截面、零件的曲线或距边缘一定距离的周线。扫描类型与测量模式、测头类型及是否有CAD文件等有关,状态按纽(手动/DCC)决定了屏幕上可选用的“扫描”(SCAN)选项。若用DCC方式测量,又具有CAD文件,那么扫描方式有“开线”(OPEN LINEAR)、“闭线”(CLOSED LINEAR)、“面片”(PATCH)、“截面”(SECTION)及“周线”(PERIMETER)扫描。

  若用DCC方式测量,而只有线框型CAD文件,那么可选用 “开线”(OPEN LINEAR)、“闭线”(CLOSED LINEAR)和“面片”(PATCH)扫描方式。若用手动测量模式,那么只能用基本的“手动触发扫描”(MANUL TTP SCAN)方式。若在手动测量方式,测头为刚性测头,那么可用选项为“固定间隔”(FIXED DELTA)、“变化间隔”(VARIABLE DELTA)、“时间间隔”(TIME DELTA)和“主体轴向扫描”(BODY AXIS SCAN)方式。

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